近日，北京航空航天大学集成电路学院科研人员在5个原子层厚的纳米磁性薄膜上写下“100年”字样，这标志着我国在磁性芯片生产过程中的磁性薄膜检测这一关键技术取得了新突破，显示出这台仪器在测试精度和速度等方面有了技术革新，实现了自主创新突破。新华社记者 鞠焕宗/摄